LEPTOSKOP 2042 涂層測(cè)厚儀

簡(jiǎn)要描述：LEPTOSKOP 2042 涂層測(cè)厚儀利用磁感應(yīng)法（DIN EN ISO 2178）測(cè)量鐵磁基體上的非鐵磁層的厚度并且利用渦流法（DIN EN ISO 2360）測(cè)量非鐵磁材料上覆蓋的非導(dǎo)電層厚度。

產(chǎn)品型號(hào)：LEPTOSKOP 2042
廠商性質(zhì)：代理商
更新時(shí)間：2024-07-06
訪問(wèn) 量：997

產(chǎn)品咨詢(xún)聯(lián)系我們

產(chǎn)品分類(lèi)

Product classification

無(wú)損檢測(cè)設(shè)備

AI 功率器件散熱器檢測(cè)系統(tǒng) 八通道高效率金屬擴(kuò)散焊檢測(cè)系統(tǒng) 四通道高效率釬焊檢測(cè)系統(tǒng) 分析儀合金分析儀專(zhuān)業(yè)檢測(cè)設(shè)備紅外熱像儀 X射線工業(yè)內(nèi)窺鏡超聲耗材輻射儀測(cè)厚儀探傷儀橫波耦合劑高溫耦合劑 GE通用電氣無(wú)損檢測(cè) 萬(wàn)睿視VAREX平板探測(cè)器

查看全部

相關(guān)文章

詳細(xì)介紹

LEPTOSKOP 2042 涂層測(cè)厚儀

利用磁感應(yīng)法（DIN EN ISO 2178）測(cè)量鐵磁基體上的非鐵磁層的厚度并且利用渦流法（DIN EN ISO 2360）測(cè)量非鐵磁材料上覆蓋的非導(dǎo)電層厚度。

儀器將一種把測(cè)厚值顯示為模擬指針的工具和近似WINDOWS一樣的文件管理系統(tǒng)相結(jié)合，同時(shí)提供10種可供任意選擇的語(yǔ)言，以滿足客戶的各種需求。

涂層測(cè)厚儀LEPTOSKOP 2042是一種經(jīng)濟(jì)的產(chǎn)品，電池壽命長(zhǎng)，可以連續(xù)工作100小時(shí)以上。儀器記錄工作時(shí)間和測(cè)量數(shù)量，因此一些重要的參數(shù)可以被保存。

彩色的橡膠皮套也是在供貨范圍內(nèi)，可以保護(hù)儀器在工業(yè)環(huán)境中意外滑落不受損害。

LEPTOSKOP 2042 涂層測(cè)厚儀

特點(diǎn)概述

大圖解屏幕 48 mm x 24 mm, 有背景燈校準(zhǔn)選項(xiàng) 出廠時(shí)已校準(zhǔn)，立即可用在未知涂層上校準(zhǔn)* 零校準(zhǔn)* 在無(wú)涂層的基體上一點(diǎn)和多點(diǎn)校準(zhǔn)* 在有涂層的基體上校準(zhǔn)*校準(zhǔn)數(shù)據(jù)可以別單獨(dú)存儲(chǔ)在獨(dú)立的校準(zhǔn)檔案中，也可以隨時(shí)調(diào)出可選擇的顯示模式，以形式去完成測(cè)量任務(wù)*輸入和極限監(jiān)視*在Windows下有簡(jiǎn)單的存儲(chǔ)讀數(shù)檔案管理*可用的電腦軟件STATWIN 2002 和EasyExport統(tǒng)計(jì)*可統(tǒng)計(jì)評(píng)估999個(gè)讀數(shù)小值、大值、測(cè)量個(gè)數(shù)、標(biāo)準(zhǔn)偏差和極限監(jiān)視局部厚度和平局膜層厚度（DIN EN ISO 2808）在線統(tǒng)計(jì)，所有統(tǒng)計(jì)值概括

3種配置級(jí)別以更好的完成測(cè)量人任務(wù)

LEPTOSKOP 2042 有3種配置級(jí)別

	基本型 – 證明質(zhì)量的基本特征
	高級(jí)型 - 附加統(tǒng)計(jì)評(píng)估
	專(zhuān)業(yè)型 - 統(tǒng)計(jì)評(píng)估和數(shù)據(jù)存儲(chǔ)

如果針對(duì)新的測(cè)量要求，而需要儀器增加新的功能，可以在任何時(shí)候把儀器升級(jí)為高級(jí)型和/或?qū)I(yè)型。升級(jí)只需在現(xiàn)場(chǎng)輸入解鎖代碼，“統(tǒng)計(jì)”和/或“統(tǒng)計(jì)& 數(shù)據(jù)存儲(chǔ)”，便可完成；而不需要把儀器反廠或重新購(gòu)買(mǎi)新機(jī)器。

多樣的探頭

多樣的外部探頭使LEPTOSKOP 2042在困難的條件下，更容易地測(cè)量復(fù)雜幾何圖形上的特殊涂層厚度。涂層厚度是20mm 也是可以的。根據(jù)需求，我們也可以訂做特殊探頭。